電子部品の小型化/高付加価値化の反面、益々コスト競争も激化しており、従来の目視検査はスピード及び検査品質の安定性に限界が生じてきております。
その為製品不良を正確に、尚且つハイスピードで処理できる外観検査装置の導入が必要不可欠となってきました。
弊社のOVSシリーズはチップの4面・6面を高速に安定検査する(最高5000ケ/分)のはもちろんのこと、シンプルな機構により製品に対して大変優しい装置として開発されました。
また新開発の高速2照明切替機構の採用により、従来以上の検査パフォーマンスを実現しました。
ウエハチップ外観検査装置もご用意いたしております。
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