OVS-5120是用于检查最大12英寸晶圆上芯片的光学外观检查设备,该设备的功能之一是我们独创的“自适应学习软件”,它有助于减少漏检率和误判率,并能实现较高的缺陷检出率和 优越重复性。
此外,您可以在我们的设备中轻松创建检查程序。
切勿将缺陷品列入良品中
借助特殊的照明和检查软件,可以稳定地检测有缺陷的产品。.
使用软件吸收批次之间的差异。
配备了Okano独特的划时代的学习软件。.
低成本,高性能的设备。
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